CVE-2026-80768

Publiée le 4 sept. 2026

Dans le noyau Linux, la vulnérabilité suivante a été corrigée : HID: ft260: correction d'une écriture stack-use-after-return lors d'une condition de concurrence dans la lecture I2C ft260_i2c_read() fait pointer dev->read_buf vers un tampon fourni par l'appelant (souvent une variable sur la pile), active une completion et attend jusqu'à cinq secondes que le périphérique renvoie les données. Le callback d'entrée HID ft260_raw_event() s'exécute dans le chemin d'entrée/IRQ, indépendamment du mutex dev->lock détenu par le chemin de lecture, et copie la charge utile fournie par le périphérique dans dev->read_buf après une simple vérification NULL. Ces deux chemins partagent read_buf, read_idx et read_len sans aucune sérialisation. Si le périphérique retarde sa réponse jusqu'à l'expiration du délai de lecture, ft260_i2c_read() réinitialise le contrôleur, efface read_buf et retourne, ce qui déroule la frame de pile où se trouvait le tampon. Une réponse qui arrive à ce moment permet à ft260_raw_event() de passer la vérification NULL, puis memcpy() écrit la charge utile contrôlée par le périphérique à l'emplacement désormais libéré sur la pile, déclenchant un write stack-use-after-return limité, mais influencé par un attaquant, provoqué par un matériel malveillant ou défaillant. Ajout d'un spinlock dédié qui sérialise chaque accès à read_buf, read_idx et read_len. ft260_raw_event() le détient désormais pendant la vérification NULL, le memcpy et la mise à jour de l'index, tandis que le chemin de lecture l'acquiert lors de l'activation et de l'effacement du tampon, de sorte que le teardown ne puisse plus s'intercaler entre la vérification et la copie.

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La description technique est notre traduction du texte original du NVD, en anglais.

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